度湿吸EAEG絶縁診断関連注意警戒正常注意注意■ 簡易絶縁診断による良否判定エ ナ メ ル 線 絶 縁 層 の 評 価■ 低周波の周波数特性で変化を捉える正常注意警戒表面汚損度導体部分放電の発生により、絶縁被膜に変化が生じます。絶縁被膜部分放電導体導体相 間 部 分 放 電※付属専用PCソフトによる機能となります。エナメル線絶縁層の評価に新たな提案PDIV試験（部分放電試験）では見ることが出来なかった“変化”を顕在化。対 地 間 部 分 放 電マッピングマトリクスでの劣化度合い表示と、A～Gの7段階判定で劣化状態を評価。エナメル線絶縁層の評価に新たな可能性を提案します。低周波のtanδ・静電容量特性を解析することで、絶縁被膜の変化を捉えます。18
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